2024年9月3日-13日,萬象奧科將攜手STM32走進(jìn)11座城市,共啟2024全國巡回研討會!今年的巡回研討會以“STM32,不止于芯”為主題,向蝶粉分享近期上市的STM32新品,與大家探討STM32在智能工業(yè)、無線連接邊緣A1、安全、圖形用戶界面等領(lǐng)域如何賦能新質(zhì)生產(chǎn)力!圖1 STM32全國巡回研討會作為STM32在MPU領(lǐng)域的重要合作伙伴,萬象奧科將攜STM32MP135、STM32...
RK3562小體積金手指系列核心板基于瑞芯微四核Cortex-A53+Cortex-M0處理器設(shè)計,工作主頻高達(dá)2GHz,最高搭載4GB高速LPDDR4、32GB eMMC。該核心板擁有204 Pin腳,尺寸僅為67.6mm *45mm,支持千兆網(wǎng)、USB3.0、串口、PCIE、HDMI等豐富外設(shè)資源,非常適合于高性能、高性價比的工業(yè)應(yīng)用場景。圖1 RK3562核心板RK3562J/RK3...
可靠性加速試驗中的高加速應(yīng)力試驗(HAST,highlyaccelerated stress test)及極限應(yīng)力試驗(Limil test)技術(shù)不斷發(fā)展,為考核產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,快速暴露產(chǎn)品的設(shè)計和制造缺陷,提高其可靠性提供了強(qiáng)有力的工具。
1. 引言隨著嵌入式技術(shù)飛速發(fā)展,高速電路的開發(fā)面臨器件尺寸縮小、時鐘頻率提升、布線密度增加等因素,嵌入式產(chǎn)品在信號傳輸、電源質(zhì)量等問題上要求日益提高。為確保高速電路在產(chǎn)品整個生命周期內(nèi)的可靠性,必須采用先進(jìn)的可靠性技術(shù)。武漢萬象奧科學(xué)習(xí)易瑞來殷老師可靠性相關(guān)課程與經(jīng)驗,以更好的應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。2. 高速電路開發(fā)的挑戰(zhàn)由于產(chǎn)品和器件的尺寸不斷縮小,器件的時鐘頻率越來越高,信...
在當(dāng)今高度電子化的社會中,各類電子設(shè)備已經(jīng)滲透到我們生活的方方面面,從智能手機(jī)、筆記本電腦到工業(yè)控制系統(tǒng)、醫(yī)療設(shè)備,無一不依賴著復(fù)雜的電子電路和微處理器來執(zhí)行其功能。